Auf ihrer Ergebniskonferenz am 24. Oktober gab CETC Instruments bekannt, dass das Unternehmen seine Kompetenzen im Bereich Leiterplattenprüfung kontinuierlich weiterentwickelt. Bisherige Lösungen konzentrierten sich primär auf Forschung und Entwicklung bzw. den F&E-Prozess von Leiterplattenherstellern. Um der Nachfrage nach effizienten automatisierten Tests in der Massenproduktion gerecht zu werden, entwickelt das Unternehmen automatisierte Testlösungen für Leiterplattenfertigungslinien und erweitert damit seine Kompetenzen von der Forschung und Entwicklung auf die Massenproduktion. Auf der Shenzhen Semiconductor Exhibition präsentiert das Unternehmen einen neuen, höherfrequenten und qualitativ hochwertigeren Vektornetzwerkanalysator sowie eine Reihe von Testlösungen, darunter auch Lösungen für die Leiterplattenprüfung. Derzeit macht der Umsatz mit Leiterplattenprüfungen, die direkt im Industriesektor eingesetzt werden, einen relativ geringen Anteil aus. Hochgeschwindigkeits-Leiterplattenprüfungen erfordern neben den firmeneigenen VNA-Produkten und Softwarealgorithmen auch externe Ressourcen wie Testbasen. Das Unternehmen arbeitet daher mit Partnern zusammen, um diese Technologien weiterzuentwickeln. Leiterplattenprüfungen umfassen hauptsächlich Indikatoren wie Einfügungsdämpfung, Impedanz und Dielektrizitätskonstante. Mit der Entwicklung der Hochgeschwindigkeitsübertragung hin zu 112G und 224G steigt der Bedarf an entsprechenden Tests weiter an, und die aktuellen Ergebnisse der Musterprüfung entsprechen im Allgemeinen den Erwartungen.
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